• No.1207-1, Bangunan#1, Taman Teknologi Universiti Kebangsaan, No.11, Jalan Changchun, Zon Pembangunan Berteknologi Tinggi, Zhengzhou, Henan 450000 China
  • helen@henanmuchen.com
  • 0086 371 55692730

Ujian CT PT

  • Penganalisis MCVT405 CT/PT

    Penganalisis MCVT405 CT/PT

    Ujian nisbah pusingan.

    Ralat nisbah dan ujian ralat sudut fasa.

    Ujian beban sekunder.

    tekaan papan nama.

    Penentuan kemagnetan sisa CT dan penyahmagnetan.

    Semakan kekutuban.

    ALF & FS.

  • Penguji Transformer Siri HES

    Penguji Transformer Siri HES

    paparan LCD.

    Ralat nisbah dan ujian ralat sudut fasa.

    Impedans dan ujian kemasukan.

    Dengan perisian PC.

  • Voltan Tinggi Standard Potensi Transformer HJ siri (66-500KV)

    Voltan Tinggi Standard Potensi Transformer HJ siri (66-500KV)

    1) Julat maksimum 110-500KV/√3kV untuk pilihan.

    2) Ketepatan dan kestabilan dan prestasi yang tinggi.

    3) Digunakan sebagai standard untuk ujian PT.

    4) Reka bentuk yang berbeza untuk tahap voltan maksimum yang berbeza.

    Disesuaikan mengikut keperluan pelanggan disediakan.

  • Penguji Transformer Siri HEWE

    Penguji Transformer Siri HEWE

    1. paparan LCD

    2. Ralat nisbah dan ujian ralat sudut fasa

    3. Impedans dan ujian kemasukan

    4. Dengan perisian PC

    5. Dengan pencetak mini terbina untuk mencetak rekod ujian (pilihan)

  • Penganalisis CT/PT MCVT01C

    Penganalisis CT/PT MCVT01C

    Ujian nisbah pusingan.

    Ralat nisbah dan ujian ralat sudut fasa.

    Ujian beban sekunder.

    Semakan kekutuban.

  • Kapasitan Mudah Alih Peralatan Ujian PT MCVT01

    Kapasitan Mudah Alih Peralatan Ujian PT MCVT01

    Mengguna pakai kaedah tidak langsung untuk merealisasikan ujian nisbah, ralat nisbah dan ralat sudut fasa, dan lain-lain.

    Melalui ujian Nisbah dan kemasukan, kirakan ralat voltan terkadar 80%-120% di bawah beban terkadar dan beban had bawah.

    Saiz kecil dan ringan, sesuai untuk ujian lapangan Kapasitans PT.

    Ujian nisbah voltan.

     

  • Siri CT Beban FY

    Siri CT Beban FY

    Julat operasi yang luas

    Ketepatan: ±3%

    Piawaian yang berkenaan: IEC60044-2 atau ANSI/IEEE C57.13

    Mod operasi berbilang jenis pilihan: skrin sentuh, pemilih butang dan suis tombol

  • Kalibrator CT/VT Elektronik Mudah Alih (Digital) HEWD-2A

    Kalibrator CT/VT Elektronik Mudah Alih (Digital) HEWD-2A

    Ujian Ralat Output Digital (Ralat Nisbah dan Ralat Fasa).

    Serasi dengan protokol IEC61850-9-1/2/2LE dan IEC60044-FT3.

    Ujian Ralat Output Analog (Ralat Nisbah dan Ralat Fasa).

    Analog output isyarat kecil.

    Pematuhan EMC dengan standard IEC60044-8.

  • PT Beban FY siri

    PT Beban FY siri

    1. Julat operasi yang luas

    2. Ketepatan: ±3%

    3. Piawaian yang berkenaan: IEC60044-2 atau ANSI/IEEE C57.13

    4. Mod operasi berbilang jenis pilihan: skrin sentuh, pemilih butang dan suis tombol

  • CT Piawai Dengan siri HLS Penjana Semasa

    CT Piawai Dengan siri HLS Penjana Semasa

    Ketepatan yang tinggi.

    Reka bentuk pengubah semasa 5 hingga 4000A (atau mengikut keperluan pelanggan).

    Digunakan untuk pengukuran ketepatan penentukuran instrumen CT.

    Dengan kemudahan untuk menguji prestasi CT dan mengesahkan ketepatannya sendiri.

    Boleh berintegrasi dengan sumber semasa.

  • Bangku Ujian CT & PT

    Bangku Ujian CT & PT

    Ralat Nisbah dan ujian ralat sudut Fasa

    Ketepatan data ujian yang tinggi dan stabil

    Fungsi penyahmagnetan litar terbuka & litar tutup

    Dengan arus lebih, voltan lebih, kekutuban terbalik, beban lampau dan perlindungan pendawaian yang salah

    Piawaian yang berkenaan: IEC 60044 atau ANSI/IEEE C57.13 (bergantung pada keperluan pelanggan)

  • Siri Pengubah Arus Standard HLB-32G

    Siri Pengubah Arus Standard HLB-32G

    Reka bentuk pengubah arus 5-3200A.

    Mengguna pakai prinsip dua peringkat untuk memastikan ketepatan yang sangat baik.

    Kelas ketepatan: 0.005.

    Julat pengendalian: (1-120%)Dalam.

    Lebih kurang 50kgs.

    Transformer semasa yang disepadukan dengan sumber boleh menjadi pilihan.

12Seterusnya >>> Muka surat 1 / 2