• No.1207-1, Bangunan#1, Taman Teknologi Universiti Kebangsaan, No.11, Jalan Changchun, Zon Pembangunan Berteknologi Tinggi, Zhengzhou, Henan 450000 China
  • helen@henanmuchen.com
  • 0086 371 55692730

Ujian CT PT

  • Penguji Transformer Siri HEWE

    Penguji Transformer Siri HEWE

    1. paparan LCD

    2. Ralat nisbah dan ujian ralat sudut fasa

    3. Impedans dan ujian kemasukan

    4. Dengan perisian PC

    5. Dengan pencetak mini terbina untuk mencetak rekod ujian (pilihan)

  • Penganalisis CT/PT MCVT01C

    Penganalisis CT/PT MCVT01C

    Ujian nisbah pusingan.

    Ralat nisbah dan ujian ralat sudut fasa.

    Ujian beban sekunder.

    Semakan kekutuban.

  • Kapasitan Mudah Alih Peralatan Ujian PT MCVT01

    Kapasitan Mudah Alih Peralatan Ujian PT MCVT01

    Mengguna pakai kaedah tidak langsung untuk merealisasikan ujian nisbah, ralat nisbah dan ralat sudut fasa, dan lain-lain.

    Melalui ujian Nisbah dan kemasukan, kirakan ralat voltan terkadar 80%-120% di bawah beban terkadar dan beban had bawah.

    Saiz kecil dan ringan, sesuai untuk ujian lapangan Kapasitans PT.

    Ujian nisbah voltan.

     

  • Siri CT Beban FY

    Siri CT Beban FY

    Julat operasi yang luas

    Ketepatan: ±3%

    Piawaian yang berkenaan: IEC60044-2 atau ANSI/IEEE C57.13

    Mod operasi berbilang jenis pilihan: skrin sentuh, pemilih butang dan suis tombol

  • Kalibrator CT/VT Elektronik Mudah Alih (Digital) HEWD-2A

    Kalibrator CT/VT Elektronik Mudah Alih (Digital) HEWD-2A

    Ujian Ralat Output Digital (Ralat Nisbah dan Ralat Fasa).

    Serasi dengan protokol IEC61850-9-1/2/2LE dan IEC60044-FT3.

    Ujian Ralat Output Analog (Ralat Nisbah dan Ralat Fasa).

    Analog output isyarat kecil.

    Pematuhan EMC dengan standard IEC60044-8.

  • PT Beban FY siri

    PT Beban FY siri

    1. Julat operasi yang luas

    2. Ketepatan: ±3%

    3. Piawaian yang berkenaan: IEC60044-2 atau ANSI/IEEE C57.13

    4. Mod operasi berbilang jenis pilihan: skrin sentuh, pemilih butang dan suis tombol